型 號: | SU9000 |
所屬分類: | 場發(fā)射掃描電鏡 |
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日立高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡SU9000SU9000是世界上二次電子分辨率(0.4nm@30kV)和STEM分辨率(0.34nm@30kV)的掃描電鏡。它采取了*的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng),不僅分辨率性能優(yōu)異,而且作為冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的Flashing操作,可以快速穩(wěn)定的進(jìn)行超高分辨成像。
日立高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡SU9000
SU9000是世界上二次電子分辨率(0.4nm@30kV)和STEM分辨率(0.34nm@30kV)的掃描電鏡。它采取了*的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng),不僅分辨率性能優(yōu)異,而且作為冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的Flashing操作,可以快速穩(wěn)定的進(jìn)行超高分辨成像。
日立高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡SU9000
主要特點(diǎn):
1. 新型電子光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計達(dá)到掃描電鏡世界高分辨率:二次電子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。
2. 用改良的高真空性能和的電子束穩(wěn)定性來實(shí)現(xiàn)高效率截面觀察。
3. 采用全新設(shè)計的Super E x B能量過濾技術(shù),高效,靈活地收集SE / BSE/ STEM信號。
應(yīng)用領(lǐng)域:
1. 半導(dǎo)體器件
2. 高分子材料
3. 納米材料
4. 生命科學(xué)