日立TM4000掃描電鏡
日立TM4000掃描電鏡*的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
TM4000Plus是在TM4000基礎上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD,該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量。TM4000Plus可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實時進行顯示,獲得多的樣品信息。可選配附件豐富,擁有諸多附加功能。
日立TM4000掃描電鏡
主要參數(shù):
1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV(均四檔可調(diào))、EDX
2. 放大倍率:10×~100000×
3. 觀察模式:導體(TM4000Plus)、標準模式,消除電荷模式
4. 探測器:4分割背散射探測器、低真空二次電子探測器 (TM4000Plus)
日立TM4000掃描電鏡
應用領域:生命科學
材料科學
化學
電子制造
食品工業(yè)